Nederland – Elektronenmicroscopen – Dual‑beam FIB/SEM system

Descrizione

Aankoop van een dual-beam FIB/SEM systeem Aankoop van één (1) dual-beam FIB/SEM systeem

Fonte: TED — Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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Stazione appaltante: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Paese: Paesi Bassi
Pubblicata: 7 mag 2026
Aggiudicatario: Raith GmbH; 1.328.060 €
Procedura: Procedura aperta; Scala UE (sopra soglia)
Lingua originale: nl
Codici CPV: 38511000