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Nederland – Elektronenmicroscopen – Dual‑beam FIB/SEM system

Vergeben Vergabebekanntmachung Keine Frist veröffentlicht

Beschreibung

Aankoop van een dual-beam FIB/SEM systeem Aankoop van één (1) dual-beam FIB/SEM systeem

Amtliche Quelle

Quelle: TED — Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Prüfen Sie alle Angaben stets in der amtlichen Bekanntmachung.

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