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België – Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

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Descripción

WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Fuente oficial

Fuente: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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Datos clave

Órgano de contratación: Imec EU Pilot line NV
País: Bélgica · BE242
Publicada: 4 jun. 2026
Procedimiento: Procedimiento negociado; Ámbito UE (sobre umbral)
Idioma original: nl
Códigos CPV: 38000000