Przejdź do treści
Licitop.eu

Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes

Zamknięty Ogłoszenie o zamówieniu Zapisz

Opis

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optischen Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.

Oficjalne źródło

Źródło: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Zawsze weryfikuj szczegóły w oficjalnym ogłoszeniu.

Zobacz oficjalne ogłoszenie

Więcej od tego zamawiającego

Pełny profil zamawiającego

15 otwartych przetargów w tej chwili

Ostatnie udzielenia

Podobne przetargi

Nie przegap przetargów takich jak ten

Otrzymuj e-mail o nowych przetargach: Sprzęt laboratoryjny i precyzyjny · Niemcy. Za darmo.

Ustaw mój alert