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Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Interferometrisch überwachtes Tm-Hochleistungslasersystem für IR-FRS

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Opis

Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt ein interferometrisch überwachtes Thulium-Hochleistungslasersystem für feldaufgelöste Infrarot-Spektroskopie aus. Dieses soll aus einem Doppeloszillator im Erbium-Band, einer nichtlinearen Frequenzverschiebung ins Thulium-Band, und einem zweikanaligen Thulium-Verstärkersystem bestehen. Es wird ein kompaktes System erwartet, welches über eine schlüsselfertige Bedienung (Turnkey-System), sowie ein Interlock-Sicherheitssystem verfügt.

Oficjalne źródło

Źródło: TED — Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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