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Portugal – Microscópios electrónicos – Aquisição de microscópio eletrónico de varrimento de alta resolução com coluna de eletrões (FEG-SEM) e coluna de iões (FIB) - sistema FIB-SEM dual beam

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Descrizione

Aquisição de microscópio eletrónico de varrimento de alta resolução com coluna de eletrões (FEG-SEM) e coluna de iões (FIB) - sistema FIB-SEM dual beam

Fonte ufficiale

Fonte: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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