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Portugal – Microscópios electrónicos de varrimento – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

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Descripción

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Fuente oficial

Fuente: TED — Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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