Polska – Mikroskopy z sondą skanującą – Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne

Descripción

Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z: 1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego. 2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek. 3) Zestawu optycznego do podglądu próbki 4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu 5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej. 6) Zestawu komputerowego Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ

Fuente oficial

Fuente: TED - Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

Verifica siempre los detalles en el anuncio oficial.

Ver el anuncio oficial

Más de este comprador

Perfil completo del comprador

Adjudicaciones recientes

Modernizacja instalacji sanitarnych w pomieszczeniach laboratoryjnych w celu dostosowania ich do wymogów technologicznych IWC PAN.
adjudicado a Sentta Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością
Wykonanie prac wykończeniowo –adaptacyjnych w pomieszczeniach laboratoryjnych w celu dostosowania ich do wymogów technologicznych IWC PAN
adjudicado a KONCEPTI Sp. z o.o.
Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
adjudicado a Marek Sanaluta HD