Deutschland – Instrumente zum Messen elektrischer Größen – 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Descripción

300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Fuente: TED — Tenders Electronic Daily (Publications Office of the EU)

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Órgano de contratación: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
País: Alemania · DE403
Publicada: 16 jun. 2026
Fecha límite: 16 jul. 2026, 00:00
Procedimiento: Procedimiento abierto; Ámbito UE (sobre umbral)
Idioma original: de
Códigos CPV: 38341300 38540000